一、外观直观判断：出现不可逆物理损伤

1. 鼓包、膨胀
   • 黑金刚电解电容顶部通常有 “防爆纹”（如十字、K 型压痕），正常状态下外壳平整；若外壳鼓起、防爆纹开裂或凸起（哪怕轻微变形），说明内部电解液因高温 / 过压分解产生气体，已丧失正常性能，必须更换。
   • 贴片型电容（如 AP 系列）若出现本体开裂、引脚与本体分离，也属于失效。
2. 漏液、渗液
   • 电解电容若底部或侧面出现油性液体（透明、淡黄色或褐色），或外壳表面有粘稠残留物，说明电解液泄漏，会导致容量骤降、漏电流激增，直接影响电路稳定性，需立即更换。
3. 引脚锈蚀、断裂
   • 引脚（或螺栓端子）出现严重氧化（发黑、发绿）、锈蚀，会导致接触电阻增大，引发发热；若引脚断裂或松动（无法可靠焊接 / 固定），即使电容本体正常，也需更换（避免虚接风险）。

二、电气参数检测：关键指标超标

1. 容量衰减超标
   • 用 LCR 数字电桥（如 Keysight E4980A）在 1kHz 频率下测量容量，对比规格书标称值：
     • 电解电容：容量衰减超过20%（如标称 100μF，实测≤80μF），或容量增大超过10%（如实测≥110μF），说明内部电极氧化或电解液干涸，需更换。
     • 高分子电容（如 APSG 系列）：容量衰减超过10% 即需警惕，因其容量稳定性通常优于电解电容，衰减超标意味着内部导电高分子层老化。
2. ESR（等效串联电阻）异常升高
   • ESR 是电容高频性能的核心指标，黑金刚电容的 ESR 初始值极低（如 APSG 系列 0.005-0.05Ω）。若实测 ESR 超过初始值的 2 倍（或规格书标注的 “最大 ESR”），会导致纹波抑制能力下降、自身发热加剧，需更换。
   • 例如：某型号初始 ESR 为 0.01Ω，若实测≥0.02Ω，即使容量正常，也需更换（尤其高频电路中）。
3. 漏电流超标
   • 对电解电容，用耐压测试仪（如同惠 TH2686）施加额定电压，测量漏电流：
     • 若漏电流超过规格书上限（如 LXS 系列标注 “≤0.01CV μA”，C 为容量 (μF)，V 为电压 (V)），且持续 1 分钟不下降，说明氧化膜击穿，会导致持续发热，需更换。
     • 示例：100μF/50V 电容，允许漏电流≤0.01×100×50=50μA，若实测≥100μA，判定失效。

三、运行状态异常：间接反映电容失效

1. 温度异常升高
   • 用红外测温仪检测电容表面温度，正常运行时应≤环境温度 + 20℃（或≤85℃，取较低值）。若温度超过 90℃（尤其无明显负载增加时），说明 ESR 过大或漏电流激增，需更换。
2. 电路纹波超标、稳定性下降
   • 直流输出电路中，若示波器实测纹波电压超过设计值的50%（如设计 100mV，实测≥150mV），且排除电源芯片、二极管等元件问题，大概率是滤波电容失效（容量不足或 ESR 过高）。
   • 设备出现频繁重启、电压波动大、高频噪声明显等现象，也可能是电容滤波 / 储能能力下降导致，需检测电容参数。

四、寿命到期：按使用年限 / 环境预判

• 黑金刚电容标称寿命通常为 “105℃下 2000-10000 小时”（不同系列差异大，如 KZE 系列 2000 小时，KMG 系列 10000 小时）。按 Arrhenius 模型推算：环境温度每降低 10℃，寿命约翻倍（如 85℃下寿命为 105℃的 4 倍）。
• 若设备在高温环境（≥60℃）运行超过 5 年，或常温环境运行超过 8 年，即使未出现明显故障，也建议主动更换（避免突发失效导致更大损失）。

总结：更换阈值

1. 外观鼓包、漏液、防爆纹开裂；
2. 容量衰减＞20%（电解）或＞10%（高分子），ESR＞初始值 2 倍，漏电流超标；
3. 运行时温度持续＞90℃，或电路纹波 / 稳定性异常且指向电容问题；
4. 已超过设计寿命（结合环境温度推算）。